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fast-actingヒューズの場合の強さは主として最高の漏電のための破損容量を定める。2番目に、破損容量に影響を与えるために金属蒸気および熱を吸収するfast-actingヒューズの中の金属のフリットの形、注入口の機能およびヒューズの起電力すべて。不十分な破損容量のfast-actingヒューズは爆発するまで弧光を発し続ける。最悪の場合、それによりAC-DCの短絡を引き起こす、従って評価される破損容量は非常に重要な安全表示器である。
破損容量は整流器の条件を満たすときそれらを半導体デバイスによって必要なそれらより低くさせることを、(標準の「一時的な回復電圧と」言われる)破損のアーク電圧のピーク値が今fast-actingヒューズの製造の間に限るには余りにも高くないべきではないおよびべきであることまた注意されるべきである。容認することができる最大値はさもなければ半導体デバイス損なわれる。従って、最も短い破損の時間のヒューズは最も適しないかもしれない。
fast-actingヒューズがDC回路で使用されるとき、電圧零交叉ポイントがプロセスを壊すDCの間にないのでこれはfast-actingヒューズがfast-actingヒューズの評価される電圧のDC回路60%だけで使用することができれば使用されDCのfast-actingヒューズを使用すればことが最善なら、fast-actingヒューズの信頼できる破損のためのそう一般に粗い状態、である。