会社のニュース 私を選ぶ方法ヒューズの² tか。

        I ² tの価値は指定速いヒューズの重要な表示器の1つである、すなわち、ヒューズの溶解の時間tは溶解の現在のIのサイズと関連し、法律は流れの正方形に反比例している。

        いろいろな種類の電気機器に（を含む電力網）ある特定の積み過ぎ容量がある。積み過ぎは軽いとき、長い間作動するように許すできある特定の積み過ぎの倍数を超過するとき、ヒューズはある特定の時間以内に溶けるように要求される。積み過ぎおよび短絡を保護するためにヒューズを選ぶときこの特徴がヒューズの秒アンペア保護範囲の内にきちんとあるように電気機器の積み過ぎ特徴を理解することは必要である。

        最低呼ばれる溶解の現在のIoは論理上無限であり、現在か重大な流れを溶かす、すなわち重大な価値未満なら、溶解の流れは溶けない。指定溶解の評価される現在のIeはIoよりより少しべきである;通常、溶ける係数呼ばれるIoへのIeの比率は1.5から2.0である。この係数は積み過ぎられるときヒューズの異なった保護特徴を反映する。ヒューズが小さい積み過ぎの流れを保護できれば溶ける係数はより低いべきである;溶ける係数はモーター開始の間に短い時間の過電流による溶解を溶かすことを避けるようにより高いべきである。

        速いヒューズの現在の容量がシステム短絡の流れの条件を満たした後、漏電は短絡の欠陥の場合には隔離することができるシリーズの半導体デバイスが保護することができれば2というI ² tの値は分析されなければならない。速いヒューズのI ² tの価値は半導体デバイスのI ² tの価値未満のとき、半導体デバイスを保護できる。短絡の欠陥の場合には、私は2つの段階、即ち、前アークIの² tおよび溶解W.に² tの価値分けられる。固体からの液体への溶解した金属の遷移時間は前アークの時間、断熱過程として考慮することができる約1.0~2.0氏である。この期限の速いヒューズによって発生する設計によって定められるある特定の価値として流れの時間の全体は考慮することができる。前アークIの² tの価値は異なった材料のための同じであり、それは各材料のための定数である。溶解した金属が蒸気に回るとき、アークはアーク プロセスの間に、現在の限界値からのゼロに現在の減少発火し始め。この段階では、私は² t変数である溶解Wと電話される。このプロセスは注入口の腐食によるエネルギーの吸収によって主に決まる。

         速いヒューズを設計した場合速いヒューズを選ぶために算術方法を使用して単によりもむしろ半導体デバイスの評価される流れの連続的な改善に、会うように、多くの手段は取られるべきである。実験は半導体デバイスのI ² tの価値の増加は大いにより小さいが評価される流れが1回までに高められるとき、速いヒューズのI ² tの価値は4回であることを示す。速いヒューズのI ² tの価値を減らすためには、溶解の長さを取ることは短くし、困難アークの格子を減らし、そして材料を消すアークの能力を消すアークを改良する溶解の適度な配分のような多くの方法で手段を、である。